技术规格
产物概述
PID测试潜在电势诱导衰减（potential Induced Degradation)，组件长期在高电压工作，在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池片表面的钝化效果恶化，导致填充因子、短路电流、开路电压降低，使组件性能低于设计标准；PID测试目的是为验证组件经受高强度电压性能变化的能力。铭电推出的PID测试系统满足标准IEC61215-2 MQT21，简洁、高效、使用便捷灵活，极大地方便用户进行PID的测试实验。
主要特点
● 满足标准 IEC61215-2 MQT21
● 多路输出，可根据实际需求自由选择搭配输出通道数量
● 各通道电压独立设定输出，极性可独立设定
● 通道真正独立，若其中一通道发生故障不影响其他通道工作
● 电压设定范围从 -2000V~+2000V 可连续设定，其他规格输出电压可定制选配
● 漏电流报警设置从 0-500μA
● 可以监测环境试验箱温度 & 湿度（需提供试验箱通讯指令）
● 测试时间可根据实际需求自由设定
