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产物展示

光伏组件笔滨顿测试系统

描述:PID测试潜在电势诱导衰减,组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准;PID测试目的是为验证组件经受高强度电压性能变化的能力。铭电推出的PID测试系统满足标准IEC61215-2 MQT21,简洁、高效、使用便捷灵活,极大地方便用户进行PID的测试实验。

更新时间:2024-09-11
产物型号:罢厂顿-笔滨顿-笔4
厂商性质:生产厂家
详情介绍

技术规格

光伏组件笔滨顿测试系统


产物概述

PID测试潜在电势诱导衰减(potential Induced Degradation),组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准;PID测试目的是为验证组件经受高强度电压性能变化的能力。铭电推出的PID测试系统满足标准IEC61215-2 MQT21,简洁、高效、使用便捷灵活,极大地方便用户进行PID的测试实验。


主要特点

●  满足标准 IEC61215-2 MQT21

●  多路输出,可根据实际需求自由选择搭配输出通道数量

●  各通道电压独立设定输出,极性可独立设定

●  通道真正独立,若其中一通道发生故障不影响其他通道工作

●  电压设定范围从 -2000V~+2000V 可连续设定,其他规格输出电压可定制选配

●  漏电流报警设置从 0-500μA

●  可以监测环境试验箱温度 & 湿度(需提供试验箱通讯指令)

●  测试时间可根据实际需求自由设定








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