型号概述
产物概述
2470高压SourceMeter®源测量单元（SMU）仪器将先进的Touch、Test、Invent®技术带到您的指尖。它将创新的图形用户界面（GUI）与电容触摸屏技术相结合，使测试变得直观，并最大限度地减少学习曲线，帮助工程师和科学家更快地学习，更智能地工作，更容易发明。凭借其1100 V和10 fA的性能，2470被优化用于表征和测试高电压、低泄漏器件、材料和模块，如碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）、功率MOSFET、瞬态抑制器件、电路保护器件、功率模块、电池等。
主要性能特点
● ?覆盖范围广，最大可达1100 V/1 A DC 20 W
● 10 fA测量分辨率
● 0.012%的基本测量精度，分辨率为6?位
● 五英寸高分辨率电容式触摸屏GUI
● 源和阱（4象限）操作
● SCPI和TSP®脚本编程模式
● 用于多通道I-V测试的TSP链路
● &苍产蝉辫;前面板输入香蕉插孔；后面板高压输入叁轴连接
● 内置上下文相关帮助
● 前面板USB 2.0内存I/O端口，用于传输数据、测试脚本和测试配置
产物应用
● 相对低频测量
● 低频计算机和电信测量
● 电源
● 低频放大器
